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產(chǎn)品展示/ Product display
恒溫恒濕試驗箱 電子元器件長期耐環(huán)境性能專為電子元器件長期耐環(huán)境性能測試設(shè)計,旨在模擬高溫、低溫、高濕、低濕等復(fù)雜環(huán)境,精準測試電子元器件在長期環(huán)境作用下的性能穩(wěn)定性與可靠性。適用于電阻、電容、集成電路、傳感器等各類電子元器件,可有效檢測元器件在不同溫濕度環(huán)境下的電氣參數(shù)變化、材料老化、絕緣性能下降、焊點失效等潛在問題,幫助企業(yè)和科研機構(gòu)驗證產(chǎn)品設(shè)計合理性,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
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恒溫恒濕試驗箱 電子元器件長期耐環(huán)境性能
一、產(chǎn)品用途
恒溫恒濕試驗箱 電子元器件長期耐環(huán)境性能
二、技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:-40℃~150℃,覆蓋電子元器件可能面臨的高低溫環(huán)境。
濕度范圍:20% RH~98% RH,滿足不同濕度條件下的測試需求。
溫度波動度:±0.5℃,確保箱內(nèi)溫度穩(wěn)定,減少因溫度波動對測試結(jié)果的影響。
濕度波動度:±2.5% RH(>75% RH 時)、±3.0% RH(≤75% RH 時),精準控制濕度環(huán)境,保證測試準確性。
溫度均勻度:±2℃,使箱內(nèi)各區(qū)域溫度一致,保障測試結(jié)果的一致性和可比性。
升溫速率:≥1.0℃/min,降溫速率:≥0.7℃/min,快速達到目標溫濕度,提高測試效率。
運行時間:0 - 9999 小時可任意設(shè)定,滿足電子元器件長期耐環(huán)境性能測試的時長要求。
電源要求:AC380V±10%,50Hz,確保穩(wěn)定供電,保障設(shè)備持續(xù)運行。
三、箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
整體結(jié)構(gòu):采用箱式結(jié)構(gòu)設(shè)計,內(nèi)部為測試工作室,外部為箱體框架,配備獨立的風道系統(tǒng),確保溫濕度均勻分布;箱門設(shè)有雙層中空鋼化玻璃觀察窗,便于實時觀察測試過程。
外殼材質(zhì):選用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板,表面經(jīng)靜電噴塑處理,具有良好的防銹、防腐蝕性能,能適應(yīng)實驗室多種環(huán)境條件。
內(nèi)膽材質(zhì):采用 SUS304 不銹鋼板,表面光滑平整,易于清潔,且無揮發(fā)物質(zhì),避免對電子元器件造成污染,保證測試環(huán)境純凈。
保溫材料:填充高密度聚氨酯發(fā)泡材料和超細玻璃纖維,隔熱性能優(yōu)異,有效減少箱內(nèi)外熱量交換,降低能耗,同時防止箱體外壁結(jié)露。
密封材料:箱門采用硅膠密封條,密封性能良好,確保箱內(nèi)溫濕度穩(wěn)定,防止外界環(huán)境干擾測試結(jié)果。
制冷系統(tǒng):采用二元復(fù)疊式制冷技術(shù),搭配進口全封閉壓縮機和環(huán)保制冷劑,制冷效率高,能快速實現(xiàn)低溫環(huán)境;通過智能變頻調(diào)節(jié),可根據(jù)實際需求自動調(diào)整制冷功率,節(jié)能降耗。
加熱系統(tǒng):采用鎳鉻合金電加熱絲,結(jié)合 PID 智能控溫算法,升溫速度快且控溫精準,可根據(jù)設(shè)定程序精確控制溫度變化曲線。
加濕系統(tǒng):采用不銹鋼淺槽式加熱加濕方式,配合高性能加濕器,能快速、穩(wěn)定地調(diào)節(jié)箱內(nèi)濕度,確保濕度均勻且穩(wěn)定。
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